普源精電（RIGOL）發布全新PIA1000系列光隔離探頭，使用光纖供電與傳遞模擬信號，在測試系統和DUT之間實現完全的電氣隔離，允許探頭在大共模電壓下浮動測量。突出的帶寬、動態范圍和共模抑制性能，能夠滿足功率半導體組成的高壓高頻電路的不斷發展與功率半導體器件日益提升的測試需求，為相關領域的測試提供更多可能性！

　　1、產品亮點

　　高共模抑制比：最高CMRR可達180dB

　　高帶寬：最高可達1GHz帶寬

　　共模電壓高達85kV，差模電壓高達±6250V

　　高測試精度：直流增益精度±1%

　　光纖供電：標配2m長度的光纖傳輸，確保安全測量距離

　　適配RIGOL示波器有源探頭接口，支持RIGOL示波器供電和Type-C供電(12V,3A)兩種模式，為您的測試提供便利

　　2、解決痛點

　　安全隔離與精確測量的雙重保障

　　在電壓測試中，安全和精度是工程師最關心的問題。PIA1000系列光隔離探頭將有效解決用戶痛點：

　　電氣隔離：PIA1000通過光纖傳輸信號及供電，消除了電氣連接，提供極佳的隔離效果；

　　安全測試：PIA1000系列采用了新的探頭尖設計，可以有效避免功率半導體的“炸管”現象，并且標配2m長的光纖，可以讓示波器遠離高壓待測物，提升工程師操作的安全性

　　共模信號抑制：PIA1000擁有強大的共模信號抑制能力，有助于減少由電源線噪聲、地回路干擾等引起的共模噪聲；

　　低負載效應：PIA1000具有較低的輸入電容和高輸入阻抗，減少了對被測電路的負載影響；

　　快速開關器件的測量：PIA1000最快上升時間可達350ps，能夠準確捕獲第三代半導體高速開關事件。

　　高動態范圍：PIA1000提供一系列衰減電纜和衰減倍數可切換，能滿足各種高壓測試的應用。

　　豐富的附件：PIA1000提供MMCX連接器等附件，提供高性能和便捷的連接。

　　3、典型應用

　　有效解決GaN測試問題

　　在第三代半導體測試中，參考的源極有快速變化的共模信號，使得Vgs和Vds的測量難以開展。PIA1000光隔離探頭在全帶寬內超高的共模抑制能力，可以將GaN的Vgs、Vds信號細節完美展現。

　　PIA1000現支持DHO4000系列、MSO8000系列示波器，滿足高分辨率和高帶寬測試需求。PIA1000支持Type-C供電(12V,3A)，能夠適配無探頭供電的RIGOL示波器。

　　下圖為200MHz帶寬的高壓差分探頭與光隔離探頭測試GaN的Vgs信號波形對比圖，CH1為光隔離探頭的測示波器，CH3為高壓差分探頭的測試波形，CH3的波形出現了明顯的震蕩，在電路正常工作的情況下測試出來這樣的波形，顯然是不合理的。而同樣條件下的CH1的波形就不存在這么明顯的震蕩，在正常工況下，光隔離探頭測試的波形與理論波形更接近，由此可見，光隔離探頭的測試結果是更加可靠的。

　　▲高壓差分探頭與光隔離探頭測試GaN的Vgs信號波形對比圖

　　GaN器件具有極短的開關時間，這對于探頭的共模抑制能力提出了更高的要求，差分探頭的測試引線相對較長，測試中會引入較大的寄生電容和天線效應，信號的劇烈震蕩將瞬間引爆GaN器件，也就是工程師常說的：炸管。這個問題讓很多工程師頭疼，不僅器件損壞，還有可能會對工程師的安全造成威脅。

　　PIA1000系列光隔離探頭采用的是MMCX&MCX連接器，引線短，寄生電容非常小，幾乎不會產生天線效應，可以有效保障GaN器件的安全可靠測試。

　　4、多項全能

　　全方位覆蓋電子測試需求

　　電機驅動與功率轉換器設計

　　為電機驅動設計和功率轉換器設計提供必要的信號隔離和測量精度。

　　GaN、SiC、IGBT設備設計與分析

　　支持新一代半導體器件的高速信號測試和分析。

　　逆變器、UPS及開關電源測試

　　在逆變器、不間斷電源(UPS)和開關電源的測試中，提供穩定可靠的測量結果。