在現(xiàn)代射頻與微波測試領(lǐng)域，多端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）是評(píng)估器件性能的核心工具。然而，在實(shí)際測試中，測試夾具、連接電纜乃至探針等附加結(jié)構(gòu)往往會(huì)引入額外的電氣特性，干擾待測件（DUT）的真實(shí)響應(yīng)。為了剝離這些“干擾項(xiàng)”，獲得純凈的測量數(shù)據(jù)，去嵌入（De-embedding）技術(shù)顯得尤為重要。本文將聚焦于一種高效且廣泛應(yīng)用的去嵌入方法——自動(dòng)夾具移除（AFR），解析其在多端口VNA中的具體操作流程。

去嵌入的核心目標(biāo)是將測試系統(tǒng)中非待測部分的電氣影響從最終結(jié)果中剔除。對于多端口器件而言，這一過程需要極高的精度與算法支持。AFR技術(shù)通過測量一個(gè)已知的標(biāo)準(zhǔn)夾具（如“2倍直通”標(biāo)準(zhǔn)件），利用數(shù)學(xué)算法反推出夾具的S參數(shù)，并將其從總測量結(jié)果中扣除，從而還原出待測件的真實(shí)特性。

進(jìn)行AFR處理前，充分的準(zhǔn)備工作是確保結(jié)果準(zhǔn)確的前提。首先，需使用電子校準(zhǔn)件（Ecal）對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行嚴(yán)格的端口校準(zhǔn)。通過執(zhí)行“2 Port ECal”校準(zhǔn)流程，可以消除測試電纜和連接器帶來的系統(tǒng)誤差，建立一個(gè)精準(zhǔn)的測量參考平面。這一步至關(guān)重要，因?yàn)楹罄m(xù)所有的去嵌入操作都建立在這個(gè)校準(zhǔn)基礎(chǔ)之上。

準(zhǔn)備工作就緒后，便可啟動(dòng)AFR向?qū)АＴ赩NA的操作界面中，通常可通過“Cal > Fixtures > Automatic Fixture Removal Wizard”路徑調(diào)出該功能。隨后，將“2倍直通標(biāo)準(zhǔn)夾具”連接至校準(zhǔn)后的測試端口，這一夾具的電氣特性將作為算法的基準(zhǔn)。

進(jìn)入AFR向?qū)Ы缑婧螅僮髦饕譃樗膫€(gè)關(guān)鍵步驟。第一步是定義測試類型，根據(jù)實(shí)際情況選擇“單端”或“差分”，并指定端口數(shù)量，系統(tǒng)通常會(huì)提供默認(rèn)的推薦設(shè)置。第二步是定義標(biāo)準(zhǔn)件，選擇“直通（Thru）”類型，并在高級(jí)設(shè)置中確認(rèn)其物理長度等參數(shù)，若標(biāo)準(zhǔn)夾具與實(shí)際測試夾具的直通部分長度一致，通常可保持默認(rèn)值。第三步是測量與保存，點(diǎn)擊“Measure”按鈕，VNA將自動(dòng)采集標(biāo)準(zhǔn)夾具的S參數(shù)數(shù)據(jù)。為了提高后續(xù)測試的效率，建議將此次測量結(jié)果保存為.s2p文件，以便未來直接加載調(diào)用，無需重復(fù)物理測量。最后一步是應(yīng)用校正，確認(rèn)VNA端口與待去嵌入夾具的對應(yīng)關(guān)系無誤后，點(diǎn)擊“Apply Correction”。此時(shí)，儀器內(nèi)部算法會(huì)將標(biāo)準(zhǔn)夾具的S參數(shù)分解并分別應(yīng)用到Port1和Port2上，實(shí)現(xiàn)夾具的“虛擬移除”，最終的測試結(jié)果即為剔除了夾具影響的純凈數(shù)據(jù)。

通過上述流程，多端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠有效實(shí)現(xiàn)去嵌入處理，顯著提升測量的準(zhǔn)確性與可靠性。掌握AFR技術(shù)，對于從事高速電路設(shè)計(jì)、天線測試及多端口器件研發(fā)的工程師而言，無疑是一項(xiàng)必備的技能。