越來越多的手機(jī)、電視廠商將目光投向MicroLED技術(shù)。MicroLED即LED微縮技術(shù)，是指將傳統(tǒng)LED數(shù)組化、微縮化后尋址巨量轉(zhuǎn)移到電路基板上，形成超小間距LED，將毫米級別的LED長度進(jìn)一步微縮到微米級，以達(dá)到超高像素、超高解析率，理論上能夠適應(yīng)各種尺寸屏幕的技術(shù)。

MicroLED具備無需背光源、能夠自發(fā)光的特性，與OLED相似，但相比OLED，MicroLED色彩更容易準(zhǔn)確的調(diào)試，有更長的發(fā)光壽命和更高的亮度，但功耗比LCD低90%，是OLED的一半。或許能成為OLED之后下一代顯示技術(shù)。

顯示器的缺陷檢測是非常重要的一項(xiàng)測試，但目前的檢測測量仍保持在宏觀水平，不能用于精確測量MicroLED數(shù)組，而且用于評估MicroLED數(shù)組亮度的方法集中在總亮度的測量上，未能快速檢測MicroLED數(shù)組中的壞像素。因此尋找一種快速、精確的方法來檢查MicroLED的表面亮度是非常有必要的。

MicroLED數(shù)組的亮度測量

ITECH某系統(tǒng)集成商用戶為MicroLED提供缺陷檢測測試系統(tǒng)，工作原理為：

1使用圖像傳感器將包含著目標(biāo)物亮度信息的電信號轉(zhuǎn)換成圖像。利用標(biāo)準(zhǔn)亮度計(jì)檢測待測物的亮度，獲得灰度與亮度的關(guān)系，便可以通過曝光時(shí)間和拍攝到的圖片快速得到待測物的亮度。

2. 通過裝置拍攝工作狀態(tài)下MicroLED數(shù)組的圖片，經(jīng)過編寫的軟件便可得到不同芯片的平均亮度。例如8號芯片的亮度僅為相同電壓下其余芯片的三分之一，可確定8號芯片異常。因此，該系統(tǒng)既可以定量檢MicroLED數(shù)組的工作狀態(tài)，也可以用于快速檢測MicroLED數(shù)組的壞點(diǎn)。

3. 形成不同電流下單顆MicroLED芯片的亮度偽彩圖和亮度3D分布圖。通過調(diào)節(jié)供電電流，如10uA、100uA、1000uA等參數(shù)，可以改變Micro-LED芯片表面亮度的均勻性，形成不同的亮度效果，對產(chǎn)品性能進(jìn)行研究。可以看到在1000uA驅(qū)動電流的情況下，更多的點(diǎn)位于平均亮度附近。

ITECH可為MicroLED測試提供高分辨率高精度的供電電源。IT6400系列快動態(tài)響應(yīng)時(shí)間小于20us，電流顯示解析度可達(dá)1nA，電流紋波小于2uArms，LED測試無過流，標(biāo)配有LAN/USB/GPIB通信接口，適用于LED行業(yè)測試。

IT-M3200高精度可編程直流電源，60V-600V電壓范圍，100W、200W、360W功率，適用于系統(tǒng)集成批量測試。在?U的Mini體積里兼顧了大功率和低紋波輸出，同時(shí)具備動態(tài)負(fù)載響應(yīng)能力，提供多檔位電流量程切換，滿足用戶從安培級別到微安級別電流的多種量測需求，使用起來更加簡易有效。