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使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試

發布日期:2025-10-23 14:33:32         瀏覽數:   

MXO 示波器具有先進的 FFT 功能、優越的靈敏度和高動態范圍,非常適合電磁干擾 (EMI) 調試。利用時間相關的射頻分析,可以快速準確地檢測并分析電子電路和電路板產生的 EMI。使用操作快捷的高性能 MXO 示波器改進調試。

使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試(圖1)

您的任務

EMI/EMC 測試可以為使用電氣和電子設備的用戶保證設備的可靠運行和安全性,而設計人員需要投入大量的時間來確保產品符合相應的限制規定。

在設計和原型制作階段,通常會通過調試測量來識別并解決可能存在的 EMI/EMC 問題,之后再對產品進行一致性測試。這種方法能夠顯著降低產品不合規的風險。這需要使用各種測試工具和故障排查方法來有效確定可能影響合規性測試結果的發射源。如果采用簡化了調試過程的多方位解決方案,可以使用示波器進行時間相關的射頻測量,例如 MXO 示波器。

 

使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試(圖2)

UI 頻譜

羅德與施瓦茨解決方案

MXO 示波器的顯示屏能夠同步顯示模擬信號特性、數字定時、總線事務和頻譜。這得益于新型 ASIC,能夠處理硬件中的射頻測量,并且解決了 FFT 計算慢的傳統問題。用戶界面配備常見的頻譜分析控件(例如中心頻率、頻率范圍和分辨率帶寬),進一步增強了示波器的性能。

單獨優化時域和頻域顯示界面

頻譜顯示的更新率高

信號可以通過波形和頻譜視圖顯示,無需切分信號路徑

射頻和時間觸發功能便于輕松準確地關聯時域和頻域事件

峰值列表和對數-對數刻度可以輕松對比 EMI

使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試(圖3)

使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試(圖4)

EMI 峰值 2

出色的射頻性能:高動態范圍和靈敏度

MXO 示波器具有高動態范圍和輸入靈敏度(全測量帶寬下可達 500 μV/div),能夠檢測到微弱的輻射,非常適合 EMI 調試。12 位 ADC 和 18 位 HD 模式進一步增強了垂直精度。基于硬件加速的 FFT、高采集率和多種功能(例如根據發生頻率采用不同顏色編碼顯示頻譜)相結合,能夠快速有效地進行頻域分析。

多種功能可用于 EMI 調試

超快速 FFT 分析:頻譜采集率超過 45 000 FFT/s,能夠捕獲雜散和難以檢測到的頻譜事件

對數顯示和 dBμV 刻度:根據 CISPR 標準輕松對比 EMC 測試實驗室結果和查看限值線

自動峰值列表測量快速提供結果:自動測量 FFT 標記并列于表格中的頻率峰值

最大/最小保持和平均值跡線:統計跡線記錄頻譜功率的最大值、最小值和平均值

門控 FFT:時頻域相關聯

示波器的門控 FFT 功能可以針對捕獲的時域信號在用戶自定義的范圍內進行 FFT 分析。隨信號移動時間窗口,能夠確定互相關聯的時域信號分段和頻譜事件。例如,這可以將開關電源的無用輻射與開關晶體管的過沖相關聯。

 

使用羅德與施瓦茨MXO示波器的快速 FFT 功能進行 EMI 調試(圖5)

MXO5 配備 HZ-15 探頭

用于電場和磁場近場測量的探頭組

對于傳導發射,線路阻抗穩定網絡 (LISN) 通常包含測量的噪聲輸出。但是,這包括被測設備 (DUT) 中的所有傳導噪聲。為了定位 DUT 中的發射源,可以使用近場探頭近距離檢測磁場和電場。

R&S?HZ-15 近場探頭的頻率范圍為 30 MHz 至 3 GHz。R&S?HZ-16 放大器將頻率范圍向下擴展至 9 kHz。近場探頭組包括各種電屏蔽探頭前端,這些探頭前端具有特殊形狀,能夠用于不同的測量任務。

快速 FFT 為什么重要?

盡管目前的所有示波器都支持 FFT 功能,以便提供波形的頻譜信息,但是所需的計算操作通常會降低采集率。大多數示波器的采集率可能低至 1 FFT/s 至 100 FFT/s,因此盲區時間較長,會遺漏采集間隔中的重要頻譜事件。這不利于使用近場探頭定位頻譜發射,因為用戶需要保持探頭操作長達數秒,才能檢測到可能存在的噪聲。
MXO 示波器具有功能強大的 ASIC,能夠基于硬件實現 FFT 處理。得益于此,示波器的計算速度超過 45 000 FFT/s,不僅縮短了盲區時間,而且保證快速響應,有助于更加輕松地使用近場探頭探測發射。用戶可以使用探頭掃描 DUT,確定可能出現噪聲問題的時間和位置。

如何開始調試?

如要識別 EMI 問題的根源所在,需要確定能量源及其輻射方式。導致 EMI 問題的常見原因包括:

LCD 輻射

接地阻抗

器件寄生效應

電纜屏蔽性差

電源濾波器

開關電源(直流-直流開關電源)

內部耦合問題

信號返回不充分

金屬外殼中的靜電放電

首先使用磁場近場探頭定位能量源。對齊探頭,確定磁通量穿過環路平面的方向。沿著導體移動磁場近場探頭,可以定位能量源。然后使用分辨率更精細的探頭在更小的范圍內集中搜索能量源。
檢查 EMI 問題和電氣事件的關聯性,是 EMI 診斷過程中最耗時的操作。MXO 示波器具備快速 FFT 功能,能夠輕松關聯頻譜和時域事件。MXO 5 系列示波器提供多種采用不同射頻設置的 FFT,能夠對比 DUT 不同位置的頻譜事件,從而進行進一步的調試。

總結

EMI 問題難以檢測,而如果不符合 EMC 標準,會阻礙產品開發。在開發早期進行 EMI 調試,有助于在早期階段就檢測問題并增強電路性能。

MXO 示波器具有強大的 FFT 信號處理性能、高輸入靈敏度以及各種采集和分析功能,是開發人員在電子電路上執行 EMI 調試的有用工具。示波器具有硬件加速 FFT 功能,并以不同的顏色編碼顯示頻譜,可以顯示所捕獲信號中頻譜分量的發生頻率,便于快速識別 EMI 源。示波器和頻譜分析儀采用相似方式控制 FFT 功能,便于用戶輕松查看頻域事件,不必擔心時域設置。

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