ATECLOUD！不用學(xué)編程也能開發(fā)自己的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。

電源紋波測(cè)試是評(píng)估電源模塊穩(wěn)定性、噪聲抑制能力的核心測(cè)試項(xiàng)目，它可以精準(zhǔn)捕獲直流電源輸出中的交流紋波分量。而ATE測(cè)試系統(tǒng)以自動(dòng)化、高精度等特性在電源模塊、半導(dǎo)體、汽車電子等測(cè)試場(chǎng)景中應(yīng)用廣泛。那么如何使用ATE測(cè)試系統(tǒng)完成電源紋波的測(cè)試呢？

ATE 測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)信號(hào)采集、分析判定的自動(dòng)化流程，實(shí)現(xiàn)紋波的高精度、重復(fù)性測(cè)試；其測(cè)試的流程如下：

1. 通過(guò)可編程電源給被測(cè)電源供電，讓其正常進(jìn)入工作狀態(tài)。使用電子負(fù)載在被測(cè)電源輸出端拉載額定電流；示波器的彈簧接地夾接入被測(cè)電源的輸出端；將這些設(shè)備與裝有ATE測(cè)試系統(tǒng)的電腦相連。

輸出紋波項(xiàng)目搭建

2. 以納米軟件的ATE測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD為例，在系統(tǒng)中提前搭建好紋波測(cè)試方案，并配置好參數(shù)。

3. ATE 系統(tǒng)自動(dòng)啟動(dòng) DUT 供電，電子負(fù)載加載預(yù)設(shè)電流；

紋波測(cè)試

4. 探頭采集電源輸出電壓信號(hào)，通過(guò) ATE 的信號(hào)控制設(shè)備模塊進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試；系統(tǒng)會(huì)控制采集模塊按設(shè)定采樣率連續(xù)捕獲信號(hào)。

5. ATE測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)計(jì)算紋波 Vpp、RMS 值，繪制紋波時(shí)域波形和頻域頻譜。

6. ATE系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)對(duì)比測(cè)試結(jié)果與預(yù)設(shè)閾值，輸出 “合格 / 不合格” 判定；系統(tǒng)生成測(cè)試報(bào)告，包含紋波波形圖、頻譜圖、關(guān)鍵指標(biāo)數(shù)據(jù)、測(cè)試條件等。

電源測(cè)試

通過(guò)以上流程ATE 系統(tǒng)以高精度采集 + 自動(dòng)化流程 + 抗干擾設(shè)計(jì)的優(yōu)勢(shì)，可輕松實(shí)現(xiàn)了電源紋波的高效、精準(zhǔn)、可重復(fù)測(cè)試，系統(tǒng)可以將技術(shù)指標(biāo)轉(zhuǎn)化為量產(chǎn)效率；既滿足研發(fā)階段的深度分析需求，又適配量產(chǎn)階段的批量檢測(cè)需求，是電子儀器測(cè)試行業(yè)必然的發(fā)展路線。