ATECLOUD平臺如何幫助院校師生解決自動化測試問題?
測試背景:
在陜西某大學的學生日常課程中,電路板設(shè)計是核心實踐內(nèi)容。在設(shè)計過程中,學生需對電路板進行多次測試,采集并分析指標參數(shù),據(jù)此優(yōu)化設(shè)計;課后老師則需要對學生的電路板進行檢測,這些流程中都需要對電路板進行測試。

被測產(chǎn)品:
DC-DC和AC-DC電路板
測試項目:
DC-DC:輸出電壓、電池充電電流、電壓調(diào)整率、負載調(diào)整率、效率、輸入電壓曲線、功率曲線;
AC-DC:輸出電壓、負載調(diào)整率、動態(tài)響應(yīng)、效率、輸出電流比值、輸出交流電壓總畸變率;
測試儀器:
直流電源:艾德克斯 IT6502D
直流負載:是德 6063B
功率分析儀:福祿克 NORMA 4000CN
交流電源:艾德克斯 IT7802-350-10U
交流負載:艾德克斯 IT8615L

用戶痛點:
1. 學生在日常電路板設(shè)計中,需根據(jù)設(shè)計需求進行連續(xù)的指標測試。整個流程包含數(shù)據(jù)記錄、數(shù)據(jù)分析以及優(yōu)化設(shè)計,均需人工操作(全手動模塊),使得調(diào)試周期顯著延長。
2. 每次電路板測試都需要學生手動記錄大量數(shù)據(jù)。面對重復(fù)性測試產(chǎn)生的繁多數(shù)據(jù),學生記錄負擔過重,且容易發(fā)生錯記、漏記等錯誤。
3. 老師收到學生設(shè)計的電路板后,需逐一手動測試并記錄數(shù)據(jù)。后續(xù)還需將教師測試數(shù)據(jù)與學生數(shù)據(jù)進行人工比對,以核查學生電路板設(shè)計指標是否合格,整個過程耗費教師大量時間精力。

解決方案:
1. 平臺為學生提供了完整電路板自動化測試方案,學生在設(shè)計過程中,可以進行自動化測試,數(shù)據(jù)報告也可自動存儲,自動分析,節(jié)約學生的調(diào)試時間。
2. 系統(tǒng)會自動采集并存儲全部測試結(jié)果數(shù)據(jù),消除了學生手動記錄數(shù)據(jù)的負擔,節(jié)省記錄報告時間,提升測試數(shù)據(jù)準確性。同時,學生可便捷地查閱歷史測試數(shù)據(jù),為電路板設(shè)計提供持續(xù)的迭代優(yōu)化依據(jù)。
3. 老師通過平臺中的標準化測試方案,對全體學生的電路板進行自動化測試并記錄結(jié)果。通過平臺生成的集成化記錄報告,教師可一站式查看所有學生的測試數(shù)據(jù),并借助結(jié)果對比分析功能快速確認電路板指標合格性,減輕評估負擔。
為什么選擇ATECLOUD
1.零代碼開發(fā),無需專業(yè)編程技能即可搭建測試流程。
2.自定義數(shù)據(jù)報告一鍵導(dǎo)出,支持動態(tài)數(shù)據(jù)綁定,15 秒生成專業(yè)報告。
3.大數(shù)據(jù)智能分析,打破數(shù)據(jù)孤島,實現(xiàn)測試閉環(huán)。
4.支持 與ATE 程序、MES、ERP 等系統(tǒng)對接以及 AI 算法、非標設(shè)備的插件拓展。
5.已兼容是德、泰克、R&S、優(yōu)利德、普源等國內(nèi)外主流設(shè)備,用戶靈活替換。
技術(shù)支持
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