在使用頻譜儀測量相位噪聲時，許多工程師會遇到一個常見問題：相位噪聲跡線抖動。同一臺設備，在不同時間、不同設置下測得的相位噪聲結果飄忽不定？或者測量值總是無法達到器件手冊的理論值？這通常并非儀器故障，而是測量方法中隱藏的“陷阱”所致。

今天，我們將深入分析相位噪聲的本質，探討影響其測量穩定性的因素，并給出優化測量結果的實操技巧。

什么是相位噪聲？ 

在實際應用中，理想的正弦波信號在頻域上通常表現為一個單頻率的譜線，但現實中的信號總會存在隨機的相位波動，相位噪聲就是這種短期不穩定性的頻域表征。

簡單來說，相位噪聲使得信號的頻譜從理想的單一頻率擴展為連續的噪聲邊帶，降低了信號的頻譜純度。

在頻域中，它表現為緊鄰載波兩側的噪聲“裙邊”，這種噪聲邊帶會淹沒近載波端的微弱信號，對通信、雷達等系統的性能產生直接影響。

相位噪聲的大小通常以dBc/Hz為單位，表示在偏移載波某一特定頻率處，1Hz帶寬內的單邊帶噪聲功率與載波總功率的比值。該數值越低，說明信號的相位純度越高。

為什么測量相位噪聲時會出現抖動？ 

當你使用頻譜儀測量相位噪聲時，可能會看到頻譜圖上的相位噪聲跡線不穩定、甚至發生抖動。這個問題通常由以下幾個原因引起：

頻譜儀的本振噪聲，測量精度的根本限制

頻譜儀自身的本振相位噪聲是測量外部信號相位噪聲時最根本的誤差來源和測量指標上限。

其原理在于，任何頻譜儀在測量時，都會將被測信號的相位噪聲與其內部本振（LO）的相位噪聲在混頻過程中進行矢量疊加。

（1）近端測量的絕對瓶頸：在靠近載波的頻偏處（如100Hz至100kHz），被測信號的相位噪聲通常很低。此時，頻譜儀自身的本振噪聲將占主導地位，直接“掩蓋”或“疊加”在測量結果上，導致讀數嚴重偏離真實值。換句話說，你測量的可能是頻譜儀自己，而不是被測信號。

（2）“10dB準則”：為確保測量有效，通常建議頻譜儀在目標頻偏處的本底相位噪聲應至少比被測信號的預期噪聲優10dB以上。否則，測量結果將不可信。

（3）啟用專用模式與噪聲校正：選擇正確的本振模式：現代高性能頻譜儀（Keysight X系列或R&S FSW）都有提供“低相位噪聲”或“Phase Noise Optimized”等本振噪聲優化模式。在測量近端相位噪聲時，務必手動啟用此模式，以發揮儀器**性能。打開“噪聲校正”功能，該功能允許儀器存儲自身的底噪，并在后續測量中自動扣除，從而顯著擴展有效的動態范圍。

（4）考慮替代方案：當被測信號的相位噪聲性能極高，接近或優于頂級頻譜儀的相噪時，直接頻譜儀法已不適用。此時必須采用基于鑒相器和互相關技術的專用相位噪聲分析儀，它們通過復雜的信號處理技術能極大抑制內部噪聲的影響，實現遠超頻譜儀的測量靈敏度。

分辨率帶寬（RBW）設置

分辨率帶寬是影響測量精度與速度的核心參數。RBW的設置直接影響顯示的噪聲電平：RBW每減小10倍，顯示的平均噪聲電平降低10dB，但同時掃描時間會顯著增加。

RBW設置過寬，噪聲邊帶會被平滑，測量結果不準確，無法分辨近載波的噪聲細節。

設置RBW的核心原則：它應足夠窄，以確保在您所關心的頻偏范圍內（例如100Hz、1kHz、10kHz偏移處），頻譜儀能夠清晰分辨噪聲邊帶的形狀，而不會因濾波器的平滑效應導致讀數偏低。

實際操作中，可首先設置一個較小的RBW（如10Hz）觀察完整的相位噪聲曲線，然后在滿足測量精度要求的前提下，逐步增大RBW以縮短掃描時間，直至觀察到曲線形狀開始發生變化，即選擇此前一個RBW值作為最終設置。

如何精確測量相位噪聲？優化建議 

第一步：測量基礎--儀器評估與核心設置

在測量前，正確的儀器選擇和基礎設置是成功的基石。

（1）驗證頻譜儀相位噪聲，遵守“10dB準則”

核心原則：頻譜儀在目標頻偏處的本底相位噪聲性能必須至少比被測信號預期噪聲低10dB以上，否則測量結果反映的是儀器自身性能。

操作：查閱頻譜儀手冊中的相位噪聲曲線，或使用一臺超低相噪的信號源（如R&S SMW200A、Keysight 8267D），以此判斷儀器是否適用。

（2）優化輸入與參考，釋放儀器潛力

輸入衰減：設置為“自動”或適度手動值。在防止輸入過載（衰減過小）和避免惡化系統噪聲系數（衰減過大）之間取得平衡。

低相噪模式：測量近端相位噪聲時，手動啟用頻譜儀的“低相位噪聲Phase Noise Optimized”或“Low Jitter Mode”模式，以優化本振穩定性。

參考源：若頻譜儀本振穩定性不足，連接一個更潔凈的外部參考時鐘能直接改善其本底噪聲，這對近端測量極為有效。

第二步：關鍵設置--RBW、檢波與平均

正確的參數配置是獲得準確頻譜視圖的關鍵。一個快速參考如下：

第三步：進階魔法--應用高級方法與功能

對于要求嚴苛或常規方法受限的測量，需采用更高級的手段。

（1）啟用噪聲校正功能：若您的頻譜儀支持“噪聲校正”功能。盡量使用，這是突破儀器固有極限、測量極低相位噪聲的關鍵。

（2）考慮專用相位噪聲分析儀：當信號相位噪聲接近或優于頂級頻譜儀本底時（如測量超低噪聲晶振、VCO殘余噪聲），必須使用基于鑒相器和雙通道互相關技術的專用分析儀（如Keysight E5052B或R&S FSWP）。該技術能極大抑制內部噪聲，提供比頻譜儀高20dB以上的靈敏度。

keysight頻譜儀測量相噪步驟 

基本頻譜模式測量方法

（1）設置中心頻率：按Freq鍵→輸入被測信號的頻率（如1.8GHz）。

（2）設置掃寬：按Span鍵設置合適的掃寬（如500kHz，5倍偏移頻率）。

（3）調整參考電平：按Amplitude→RefLevel，設置參考電平略高于信號峰值（避免過載）。

（4）優化分辨率帶寬（RBW）：按BW鍵→設置RBW為1kHz或更小（降低RBW可提高靈敏度，但會增加掃描時間）；

（5）標記峰值：peak搜索信號峰值。

（6）選擇差值標記（設置偏移頻率），噪聲標記功能（Mark noise）進行歸一化計算。

相位噪聲測量模式

（1）啟用相位噪聲測量模式：按Meas鍵→選擇PhaseNoise（部分型號需在“測量應用”菜單中啟用）。或通過Mode→選擇Spectrum Analyzer+PhaseNoise+Log Plot（如N9030B）。

（2）設置載波頻率：按Freq鍵→輸入被測信號的頻率（如1.8GHz）。

（3）設置偏移頻率范圍：輸入起始偏移（如10Hz）和終止偏移（如1MHz），覆蓋感興趣的頻偏范圍。

（4）選擇載波跟蹤模式：若信號頻率漂移較大，啟用Carrier Tracking（自動鎖定載波頻率）。

（5）優化檢波器：按Detector→選擇Average或RMS檢波方式，提高測量穩定性。