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RISC-V芯片:如何打造仿真到測試的完整驗證閉環(huán)

發(fā)布日期:2025-12-03 14:04:37         瀏覽數(shù):   

RISC-V 的發(fā)展背景與全球趨勢

RISC-V 作為新一代開放指令集架構(gòu)(ISA),已經(jīng)從學(xué)術(shù)界的概念研究快速走向全球產(chǎn)業(yè)化浪潮。在短短數(shù)年內(nèi),它從“開源替代方案”成長為全球半導(dǎo)體生態(tài)的重要力量,成為 CPU 架構(gòu)演進(jìn)中最具活力的選項之一。

全球崛起:從開源實驗室到產(chǎn)業(yè)級生態(tài)

RISC-V 的核心優(yōu)勢來自其 開源、免費(fèi)、可擴(kuò)展、可裁剪 的本質(zhì),使其迅速獲得產(chǎn)業(yè)界認(rèn)可。

RISC-V International(原RISC-V基金會)目前覆蓋 70 多個國家、超過 4000 名成員

生態(tài)成員包括:谷歌、英偉達(dá)、IBM、Qualcomm、阿里巴巴、三星、西部數(shù)據(jù)(WD)等全球科技巨頭,同時也吸引了大量初創(chuàng)企業(yè)與科研團(tuán)隊加入。

市場規(guī)模爆發(fā):進(jìn)入數(shù)十億級別的商業(yè)時代

過去十年中,RISC-V 從“驗證階段”進(jìn)入“規(guī)模商用階段”,出貨量呈指數(shù)增長。

全球市場預(yù)測

2025 年全球 RISC-V 芯片出貨量預(yù)計突破 20 億顆。2030 年有望達(dá)到數(shù)百億片規(guī)模,成為全球增長速度最快的 CPU 架構(gòu)之一。其中約 50% 的增長來自中國,包括 AIoT、智能終端、邊緣計算、車規(guī) MCU 等廣泛場景。

AI 加速賽道成為增長引擎

面向推理、訓(xùn)練、AI 算子加速的 RISC-V AI SoC 有望在未來 5–7 年內(nèi)達(dá)到數(shù)十億顆級別的市場規(guī)模。由于 RISC-V 可讓企業(yè)自由擴(kuò)展自定義指令(如矩陣運(yùn)算、向量引擎等),非常適合構(gòu)建 輕量級、高能效比的 AI 加速芯片。

技術(shù)競爭格局:向 “X86 + Arm + RISC-V” 三足鼎立演變

RISC-V 的開放性和可擴(kuò)展性正在改變傳統(tǒng) CPU 的競爭邏輯。全球 CPU 架構(gòu)正步入新的競爭平衡點(diǎn)。隨著 RISC-V 的生態(tài)加速完善、工具鏈不斷成熟、商業(yè)化案例逐年增多,行業(yè)開始出現(xiàn)明確趨勢:CPU 架構(gòu)體系正從“兩極格局”走向“X86 + Arm + RISC-V”三足鼎立的新階段。

RISC-V 時代的驗證挑戰(zhàn)

從測試的角度看,RISC-V 與 x86 / Arm 的驗證本質(zhì)上并無“架構(gòu)本身決定的難點(diǎn)差異”, 真正的差別在于:RISC-V 的靈活性遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)架構(gòu),但行業(yè)尚缺乏成熟的工具鏈、案例和 SOP,因此“驗證經(jīng)驗不夠沉淀”。

因此,RISC-V 測試中普遍會遇到三個現(xiàn)實挑戰(zhàn):

(1)缺少可復(fù)用的驗證流程

不同公司、不同項目、不同自定義 ISA 都有自己的驗證方法,沒有形成像 Arm/x86 那樣的標(biāo)準(zhǔn)化路徑。

(2)缺少全過程的一致性測試驗證

EDA 仿真一套語言,硅測一套語言,系統(tǒng)調(diào)試又是一套,結(jié)果常常無法連貫,一致性缺失。

(3)缺少成熟的高速接口調(diào)試經(jīng)驗

當(dāng) RISC-V 芯片開始進(jìn)入 AI、汽車、數(shù)據(jù)中心等高端場景,高速接口(PCIe、DDR、CXL、Ethernet)成為真正的痛點(diǎn)來源。

綜上所述,RISC-V 的驗證難點(diǎn)不在于“架構(gòu)難”,而在于生態(tài)仍缺乏一條真正完整、協(xié)同、連貫的 End-to-End 驗證鏈路——從前仿真,到半實物平臺,再到硅測與系統(tǒng)級驗證。

 

是德科技的完整驗證方案

(從ADS仿真到后硅測試)

面對RISC-V芯片設(shè)計和驗證的多重挑戰(zhàn),是德科技(Keysight)則是從仿真、半實物仿真、無源測試驗證、有源測試、功能和系統(tǒng)測試,以及用相同的算法拉通全過程來加速這一過程。其核心理念是在產(chǎn)品開發(fā)全流程中形成“閉環(huán)”驗證鏈路解決方案。下圖是PCB/Cable/Fixture設(shè)計和驗證的仿測閉環(huán)流程實例。

RISC-V芯片:如何打造仿真到測試的完整驗證閉環(huán)(圖1) 

圖:是德科技的PLTS物理層測試方案和ADS仿真軟件形成仿測閉環(huán)驗證

在設(shè)計階段,是德科技的ADS (Advanced Design System) 等EDA仿真工具發(fā)揮關(guān)鍵作用。工程師可以利用ADS對高速接口電信道進(jìn)行信號完整性(SI)仿真、對電源分配網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行電源完整性(PI)分析。例如,通過ADS的PIPro模塊可以仿真芯片/板級電源網(wǎng)絡(luò)的IR壓降和阻抗分布,預(yù)測不同去耦方案對電壓紋波的影響。對于PCIe、DDR、以太網(wǎng)等高速鏈路,則可在ADS中建立拓?fù)淠P停M(jìn)行時域與頻域仿真,評估插損、抖動、眼圖裕量是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。這些仿真能夠在設(shè)計初期階段發(fā)現(xiàn)潛在信號/電源問題,指導(dǎo)硬件布局布線和IP參數(shù)選型,避免走線不良或電源噪聲過大導(dǎo)致后期整改。

進(jìn)入產(chǎn)品實現(xiàn)階段后,是德科技提供一系列尖端測試測量設(shè)備,幫助工程師驗證實際芯片和系統(tǒng)與仿真預(yù)期一致,完成最終的硅后驗證。例如,使用超高帶寬實時示波器(如Keysight UXR系列)測量高速接口的發(fā)射信號眼圖和抖動,對比仿真得到的眼圖指標(biāo),驗證設(shè)計裕量;利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)對封裝、PCB走線和連接器的S參數(shù)進(jìn)行測量,并通過去嵌技術(shù)除去治具影響,將實測信道特性與ADS仿真模型對應(yīng)比對,從而校準(zhǔn)模型精度。同時,是德科技的測試方案注重自動化和相關(guān)性:許多儀器配套軟件可自動執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一致性測試,用腳本一次性跑完整套用例并生成報告;仿真結(jié)果和測量數(shù)據(jù)可以在同一平臺下關(guān)聯(lián)分析,幫助快速定位差異原因,實現(xiàn)設(shè)計與測試的無縫銜接。

通過將前端設(shè)計仿真與后端硬件測試緊密耦合,是德科技構(gòu)建了一個覆蓋RISC-V芯片全生命周期的驗證閉環(huán)。這種方案能夠在實驗室里重現(xiàn)復(fù)雜的場景,提早暴露問題并指導(dǎo)設(shè)計改進(jìn),避免流片后才發(fā)現(xiàn)紕漏而被迫修復(fù)。事實證明,借助仿真-實測閉環(huán),可以顯著降低開發(fā)風(fēng)險和成本——例如在高速接口設(shè)計中,仿真階段鎖定優(yōu)化參數(shù)可減少一次PCB迭代。憑借深厚的技術(shù)積累,是德科技構(gòu)筑的這一完整驗證鏈路,為RISC-V芯片從概念到落地保駕護(hù)航,幫助工程師大幅提升驗證信心和效率。

對于芯粒測試,ADS仿真、去嵌、和物理層測試方案的結(jié)合顯得更加必要,下圖是芯粒測試的流程實例。

RISC-V芯片:如何打造仿真到測試的完整驗證閉環(huán)(圖2) 

圖:芯粒測試的流程

PCIe、DDR、CXL、Ethernet、

電源/信號完整性測試場景概覽

 

RISC-V芯片:如何打造仿真到測試的完整驗證閉環(huán)(圖3)

RISC-V芯片要在各種應(yīng)用中可靠運(yùn)行,離不開對其高速接口和板級性能的嚴(yán)格測試。是德科技的方案廣泛覆蓋了主流接口標(biāo)準(zhǔn)和完整性驗證需求,典型場景包括:

PCI Express (PCIe):無論是在數(shù)據(jù)中心將RISC-V處理器與GPU加速卡相連,還是在嵌入式設(shè)備中擴(kuò)展高速外設(shè),總線接口PCIe都是關(guān)鍵紐帶。是德科技提供從PCIe 1.0到最新6.0的物理層和協(xié)議層一致性測試方案,可對發(fā)射端眼圖和抖動、信道插損和回?fù)p、接收端誤碼率等進(jìn)行全面測量。配套的協(xié)議分析儀和協(xié)議發(fā)生器則用于驗證鏈路訓(xùn)練狀態(tài)機(jī)(LTSSM)、錯誤處理等協(xié)議行為。借助如UXR系列示波器、M8000A系列誤碼儀、PNA/PNA-X/PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及P5570A 和 P5573A PCIe 6.0 協(xié)議分析儀測試工具,工程師能夠高效完成PCIe鏈路的一致性認(rèn)證和調(diào)試,確保RISC-V芯片與現(xiàn)有PCIe生態(tài)無縫互通。

 

RISC-V芯片:如何打造仿真到測試的完整驗證閉環(huán)(圖4)

DDR內(nèi)存接口:RISC-V處理器廣泛用于高性能計算和AI加速時,常需連接高速DDR/LPDDR內(nèi)存。是德科技的解決方案覆蓋DDR3/4/5及LPDDR5/6等標(biāo)準(zhǔn),從時鐘抖動、信號眼圖、命令總線時序到電壓噪聲均有針對性的測試項目。通過高帶寬示波器配合DDR一致性測試軟件,可自動化測量讀寫眼高/眼寬、時序參數(shù)(tDQSQ、tDQSCK等)是否達(dá)標(biāo);結(jié)合誤碼儀可以模擬加擾噪聲驗證數(shù)據(jù)可靠性。此外,是德科技還提供前仿真到后測量的一體化DDR分析工具:IBIS模型仿真布線拓?fù)洌瑢崪yS參數(shù)比對仿真眼圖,幫助客戶在DDR接口設(shè)計中實現(xiàn)仿真-測試閉環(huán),平滑升級到新一代存儲器。

CXL高速互連:Compute Express Link (CXL)是新興的基于PCIe的緩存一致性互連,總線標(biāo)準(zhǔn)復(fù)雜且要求嚴(yán)格。針對采用CXL架構(gòu)的RISC-V 芯片,是德科技的PCIe5.0/6.0測試平臺同樣適用:能夠測量CXL鏈路的物理層信號質(zhì)量,并通過協(xié)議分析儀驗證CXL的一致性協(xié)議(如內(nèi)存緩存一致性、設(shè)備內(nèi)存映射)是否正確實現(xiàn)。利用Keysight提供的PCIe/CXL協(xié)議觸發(fā)和解碼工具,可以在鏈路訓(xùn)練、讀寫事務(wù)中捕獲異常,確保RISC-V芯片在CXL互連下數(shù)據(jù)一致且延遲可控。

高速以太網(wǎng) (Ethernet):許多RISC-V應(yīng)用(例如網(wǎng)絡(luò)處理器、物聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)關(guān)等)需要支持千兆乃至更高速率的以太網(wǎng)通信。是德科技具備從1GbE到400GbE/800GbE以太網(wǎng)物理層的一體化測試能力。通過誤碼儀和示波器相結(jié)合,可測試高速SERDES鏈路的誤碼率、抖動容限和眼圖裕度;使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能評估高速差分線路的特性阻抗匹配和模式轉(zhuǎn)換。針對以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn),還支持自動一致性測試套件,覆蓋IEEE規(guī)范要求的電氣參數(shù)測試,幫助工程師快速判斷設(shè)計是否符合Ethernet標(biāo)準(zhǔn)。無論是板上走線還是光模塊接口,都可以在Keysight平臺上完成全面的物理層驗證,為RISC-V芯片的網(wǎng)絡(luò)通信功能提供信心保障。

電源和信號完整性 (PI/SI):隨著芯片工藝和速率的提升,板級電源穩(wěn)定與信號質(zhì)量對系統(tǒng)性能的影響愈發(fā)突出。是德科技將PI/SI測試納入驗證鏈路中,提供專門工具監(jiān)控和優(yōu)化這些“看不見”的細(xì)節(jié)。例如,通過高速示波器配合電源軌探頭,可以測量芯片供電的瞬態(tài)紋波噪聲,并使用專用分析軟件評估電源噪聲對高速數(shù)據(jù)眼圖的影響。在信號完整性方面,利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀獲取走線的S參數(shù)后,工程師可以在ADS里仿真不同補(bǔ)償方案(如預(yù)加重、均衡),再將其應(yīng)用于實際電路驗證效果。此外,Keysight提供抖動/干擾注入工具,可在實驗室重現(xiàn)極端干擾場景,檢驗RISC-V芯片的抗擾裕度。通過這一系列軟硬件手段,電源和信號完整性問題能夠在設(shè)計早期就被發(fā)現(xiàn)并解決,確保最終產(chǎn)品在苛刻環(huán)境下依然穩(wěn)定工作。

綜上,是德科技構(gòu)建了覆蓋PCIe 1.0~6.0、DDR3~5/LPDDR6、Ethernet 400G/800G等各類高速接口,以及板級SI/PI性能的完整測試方案,涵蓋了從發(fā)送端、信道到接收端的全流程驗證。通過模塊化的軟硬件組合,該方案幾乎囊括了RISC-V芯片可能涉及的所有測試場景,真正做到一站式保障芯片各方面指標(biāo)的符合性和可靠性。

結(jié)語:從開放指令集到驗證閉環(huán)的落地路徑

開放的RISC-V指令集正為計算產(chǎn)業(yè)帶來創(chuàng)新活力,但要將這份潛力轉(zhuǎn)化為可靠的產(chǎn)品,完善的驗證閉環(huán)至關(guān)重要。針對RISC-V芯片設(shè)計彈性大、驗證難度高的特點(diǎn),是德科技以其專業(yè)測試測量能力打造了從仿真到測試的全覆蓋解決方案,彌合了設(shè)計預(yù)期與實際性能之間的鴻溝。在這種閉環(huán)驗證思路的護(hù)航下,RISC-V芯片的開發(fā)風(fēng)險大大降低,創(chuàng)新者們可以更大膽地探索定制化設(shè)計而無后顧之憂。

展望未來,RISC-V就像給算力生態(tài)開辟了一個“新接口”:它既能與現(xiàn)有的GPU、PCIe、以太網(wǎng)等體系協(xié)同合作,又能玩出指令級和架構(gòu)級定制的新花樣。隨著軟硬件生態(tài)日趨成熟,有了從設(shè)計到測試的閉環(huán)保障,RISC-V的落地之路將更加穩(wěn)健而快捷。或許再過幾年,我們?nèi)粘J褂玫氖謾C(jī)、電腦、智能汽車中都將出現(xiàn)RISC-V芯片的身影。是德科技將持續(xù)深耕測試測量技術(shù),攜手產(chǎn)業(yè)伙伴完善這一開放架構(gòu)的驗證體系,加速邁向一個開放創(chuàng)新、閉環(huán)可靠的RISC-V新時代。


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