隨著數據率不斷提高，高速數字設計和組件的信號完整性變得更具挑戰性。在更高的數據率下，矢量網絡分析儀 (VNA) 更是逐漸取代傳統的時域反射計 (TDR) 裝置，以用于測試連接器、電纜和 PCB 等無源器件。VNA 有助于提高準確性、速度和靜電放電 (ESD) 穩健性，是這個領域的理想之選。

R&S?ZNB20 裝置可用于驗證 PCB 上高達 20 GHz 的高速差分信號線路

您的任務

驗證 PCB 上的數字高速信號結構或執行其他任務時，必須在特定層進行測量，同時確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計算并消除此類測量影響，確保只保留興趣區域的測量結果。

測試解決方案

以下裝置示例展示了驗證 PCB 上高達 20 GHz 的高速差分信號路線。該測試裝置基于 R&S?ZNB20 四端口 VNA。相應去嵌工具（如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夾具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD)）可直接在 R&S?ZNB20 上運行，無需使用外部電腦。

除了待測量的實際信號跡線之外，PCB 試樣通常還包括較短信號跡線以促進去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探頭可用于連接 R&S?ZNB20與此類信號跡線。

測試裝置

測試程序步驟

流程自動化

為精簡測試程序并指導操作員完成測試步驟，通常使用軟件自動執行測試。左側屏幕截圖顯示測試程序的三個步驟示例：

測量雙通（短）結構以進行去嵌，結果顯示在左側欄中

測量整體（長）結構，結果顯示在中間欄中

根據所選去嵌方法計算興趣區域，結果顯示在右側欄中

對于雙通（短）結構和整體（長）結構測量，兩個探頭的阻抗變化趨勢顯示在插入損耗結果上方。這樣便于快速確定是否需要重新調整探頭。

在頻域和時域中同時顯示眼圖和測量結果

眼圖

可以使用 R&S?ZNB-K20選件進一步分析興趣區域的眼圖。此選件還可用于驗證眼圖中的加重、噪聲、抖動和均衡影響。它還可用于模板測試，并提供合格/不合格檢測與統計結果。

結論

R&S?ZNB具備所有必要功能，單機即可測試 PCB 上的數字高速信號結構。該儀器上還可安裝其他去嵌工具，以便消除探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。

您的任務

驗證 PCB 上的數字高速信號結構或執行其他任務時，必須在特定層進行測量，同時確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計算并消除此類測量影響，確保只保留興趣區域的測量結果。