為何需要校準(zhǔn)？ 網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量射頻器件時(shí)，誤差主要分為三類： - 系統(tǒng)誤差：由儀器內(nèi)部裝置不理想導(dǎo)致，可重復(fù)、可定量描述，可通過(guò)校準(zhǔn)消除（如頻響、方向性、端口失配等誤差）；

隨機(jī)誤差：由噪聲、開(kāi)關(guān)/連接器重復(fù)性差引起，隨機(jī)不可控，無(wú)法校準(zhǔn)消除；

漂移誤差：校準(zhǔn)后因溫度變化導(dǎo)致性能漂移，需定期校準(zhǔn)補(bǔ)償。 校準(zhǔn)的核心是通過(guò)測(cè)量已知參數(shù)的校準(zhǔn)件，建立誤差模型，從后續(xù)測(cè)量中剔除系統(tǒng)誤差，保證結(jié)果準(zhǔn)確。

校準(zhǔn)原理 通過(guò)測(cè)試已知特性的校準(zhǔn)件，將測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)并計(jì)算誤差模型，再用模型修正實(shí)際測(cè)量結(jié)果，本質(zhì)是明確并消除系統(tǒng)誤差的過(guò)程。

 三、主要校準(zhǔn)方式 按精度從高到低：TRL校準(zhǔn) > 電子校準(zhǔn) > 矢量校準(zhǔn) > 頻響校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)關(guān)鍵步驟（以E5071C為例）

單端口校準(zhǔn)（反射測(cè)試）： 選校準(zhǔn)套件（如85032F）→ 按“Cal”→“1-Port Cal”→ 依次連接開(kāi)路、短路、負(fù)載校準(zhǔn)件，完成對(duì)應(yīng)測(cè)試→ 點(diǎn)擊“Done”，阻抗歸一至中心點(diǎn)。

2. 直通校準(zhǔn)（傳輸測(cè)試）： 用直通頭連接目標(biāo)端口（如1-3）→ 按“Cal”→“Response（Thru）”→ 選擇端口組合→ 完成測(cè)試，補(bǔ)償線纜損耗。

五、注意事項(xiàng)

校準(zhǔn)前需設(shè)定信號(hào)功率：電子校準(zhǔn)件功率需≥-18dBm，機(jī)械校準(zhǔn)件建議≤+20dBm；

大功率測(cè)試時(shí)，射頻信號(hào)功率需低于端口損壞功率3-6dB，避免直流電平過(guò)載；

測(cè)量后及時(shí)關(guān)閉射頻激勵(lì)，養(yǎng)成存儲(chǔ)“低功率用戶預(yù)置”的習(xí)慣，防止器件損壞。

校準(zhǔn)是保證網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量精度的核心操作，需根據(jù)測(cè)試場(chǎng)景選擇合適方式，嚴(yán)格遵循步驟以消除系統(tǒng)誤差。