納米發(fā)電機(jī)程控測(cè)試系統(tǒng)基于對(duì)靜電計(jì)和萬用表/數(shù)據(jù)采集卡自動(dòng)程序控制。實(shí)現(xiàn)對(duì)納米發(fā)電中微小信號(hào)的精確采集。大大提高數(shù)據(jù)采集速率，避免由于采樣率的不足導(dǎo)致峰值點(diǎn)采集缺失，造成測(cè)量誤差。

硬件配置圖    

信號(hào)拓?fù)鋱D

納米發(fā)電機(jī)程控測(cè)試系統(tǒng)軟件根據(jù)不同的版本可兼容Keithley 6514/6517B靜電計(jì)、Tonghui TH2690/TH2690A/TH2690H靜電計(jì)；后端采集可兼容Keithley DMM6500、DMM7510、DAQ6510數(shù)字萬用表、ART3000系列數(shù)據(jù)采集卡、NI USB6000系列采集卡。

支持選擇采樣主體，靜電計(jì)采集或萬用表/采集卡采集。

參數(shù)配置：測(cè)量項(xiàng)設(shè)置，支持電壓、電流、電阻、電荷測(cè)量；測(cè)試量程配置、采樣間隔設(shè)定、采樣次數(shù)/連續(xù)采集設(shè)定、NPLC設(shè)定。

支持?jǐn)?shù)據(jù)繪圖，全部或?qū)崟r(shí)數(shù)據(jù)采集顯示。

支持局部框選放大分析。

該系統(tǒng)由安泰測(cè)試專注于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）系統(tǒng)集成的專業(yè)團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)，具備深厚的技術(shù)積累，能夠?qū)⒏黝悘?fù)雜的 ATE 硬件設(shè)備與定制化軟件高效整合，為電子制造、半導(dǎo)體等行業(yè)提供一站式測(cè)試解決方案。如果您有軟件定制需求，歡迎聯(lián)系安泰測(cè)試！