屏蔽效能（Shielding Effectiveness, SE）是衡量電磁屏蔽材料或結(jié)構(gòu)“阻擋”或“衰減”電磁場能力的核心指標(biāo)。簡單來說，它決定了一個(gè)物體能多好地隔絕外界干擾，或者防止內(nèi)部信號(hào)泄露。與此同時(shí)，屏蔽效能也是實(shí)現(xiàn)EMC的關(guān)鍵技術(shù)手段。屏蔽效能的應(yīng)用非常廣泛，從日常生活的考場，到尖端的航空航天，都離不開它。

微同軸屏蔽測試法的特點(diǎn)

屏蔽效能測試有多種測試方法，微同軸屏蔽測試法因自身夾具的精密性，能有效的保證測試結(jié)果的真實(shí)性與準(zhǔn)確性。同時(shí)測試裝置整體鍍金，配合精密支架，保證良好性能的同時(shí)具備便捷的操作性。

適用于導(dǎo)電織物、金屬薄板、導(dǎo)電涂層/鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電介質(zhì)板、導(dǎo)電復(fù)合材料等平板型電磁屏蔽材料的平面波（模擬遠(yuǎn)場條件）屏蔽效能測量。

測試系統(tǒng)組成

現(xiàn)場測試及應(yīng)用案例

 1.測試場景圖

圖1 測試場景圖

圖2 聚氨酯薄膜實(shí)物圖

 2、測試內(nèi)容

屏蔽效能測試

此次測試聚氨酯薄膜的測試頻段為1GHz-18GHz， 經(jīng)測試，聚氨酯薄膜屏蔽效能實(shí)測結(jié)果，如圖所示：

圖3 聚氨酯薄膜屏蔽效能實(shí)測圖