LCR測試儀（電橋）的校準是確保測量數據準確的關鍵步驟。如果不校準，測試線纜的寄生參數（如分布電容、引線電阻）會疊加在測量結果中，導致誤差。

一般來說，LCR測試儀的校準分為清零（歸零）、開路/短路校準以及負載校準。

以下是詳細的操作步驟和注意事項：

1. 校準前的準備工作

在開始校準之前，請務必做好以下準備，否則校準結果無效：

預熱：開機后建議預熱 15-30分鐘，讓儀器內部電路達到熱穩定狀態。

環境：確保環境溫度在 15℃～35℃ 之間，濕度低于80%，并遠離強電磁干擾源。

連接：連接好測試夾具（如開爾文夾具、SMD夾具等），校準所用的夾具必須與后續測量所用的夾具一致。

清潔：確保測試端子、夾具觸點清潔，無氧化或污垢。

2. 核心校準步驟

大多數現代LCR測試儀（如同惠、日置、是德等品牌）的校準流程大同小異，主要包含以下三個階段：

A. 開路校準 (Open Calibration)

目的：消除測試夾具與被測件并聯的雜散導納（主要是分布電容）。

操作：

進入儀器菜單，選擇“校準” -> “開路校準”。

保持測試夾具的兩端完全懸空（不接觸任何物體）。

按照屏幕提示，確認執行開路校準。

等待儀器提示“開路完成”或進度條結束。

B. 短路校準 (Short Calibration)

目的：消除測試夾具與被測件串聯的殘余阻抗（引線電阻、接觸電阻）。

操作：

選擇“校準” -> “短路校準”。

使用低阻抗的金屬短路片（或導線）將測試夾具的高電極和低電極牢固短接。

確保短路連接良好，接觸電阻極小。

執行短路校準，直到儀器提示完成。

C. 負載校準 (Load Calibration - 可選但推薦)

目的：消除儀器內部的剩余導納和剩余阻抗，提高高精度測量的準確性。

操作：

選擇“校準” -> “負載校準”。

連接一個已知精確參數的標準元件（如高精度電阻或電容）。

輸入該標準元件的標稱值，儀器會自動計算偏差并進行補償。

3. 不同連接方式的校準要點

根據你使用的測試線數量，校準的側重點略有不同：

表格

4. 什么時候需要重新校準？

校準不是一勞永逸的，以下情況發生后，必須重新執行校準：

環境溫度變化：溫差超過5℃-10℃時，電子元件參數漂移。

更換夾具或測試線：換了線就等于換了測量系統，寄生參數完全不同。

改變測試頻率：如果你在100Hz校準，卻在1MHz下測量，誤差會很大（建議在常用頻率點分別校準）。

長時間未使用：建議每個月或每季度進行一次全面的內部校準。

5. 常見問題提示

關于“內部校準”：部分儀器有“內部校準”功能，這是校準儀器內部電路板的，不能替代上述的開路/短路校準。

接觸檢查：校準完成后，建議使用一個已知的標準件進行驗證測量，如果偏差過大，檢查夾具接觸是否良好或重新校準。