LCR測(cè)試儀如何校準(zhǔn)

發(fā)布日期：2025-12-26 13:53:07 瀏覽數(shù)：

LCR測(cè)試儀（電橋）的校準(zhǔn)是確保測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的關(guān)鍵步驟。如果不校準(zhǔn)，測(cè)試線纜的寄生參數(shù)（如分布電容、引線電阻）會(huì)疊加在測(cè)量結(jié)果中，導(dǎo)致誤差。

LCR測(cè)試儀如何校準(zhǔn)(圖1)

一般來(lái)說(shuō)，LCR測(cè)試儀的校準(zhǔn)分為清零（歸零）、開(kāi)路/短路校準(zhǔn)以及負(fù)載校準(zhǔn)。

以下是詳細(xì)的操作步驟和注意事項(xiàng)：

1. 校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作

在開(kāi)始校準(zhǔn)之前，請(qǐng)務(wù)必做好以下準(zhǔn)備，否則校準(zhǔn)結(jié)果無(wú)效：

預(yù)熱：開(kāi)機(jī)后建議預(yù)熱 15-30分鐘，讓儀器內(nèi)部電路達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)。

環(huán)境：確保環(huán)境溫度在 15℃～35℃ 之間，濕度低于80%，并遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁干擾源。

連接：連接好測(cè)試夾具（如開(kāi)爾文夾具、SMD夾具等），校準(zhǔn)所用的夾具必須與后續(xù)測(cè)量所用的夾具一致。

清潔：確保測(cè)試端子、夾具觸點(diǎn)清潔，無(wú)氧化或污垢。

2. 核心校準(zhǔn)步驟

大多數(shù)現(xiàn)代LCR測(cè)試儀（如同惠、日置、是德等品牌）的校準(zhǔn)流程大同小異，主要包含以下三個(gè)階段：

A. 開(kāi)路校準(zhǔn) (Open Calibration)

目的：消除測(cè)試夾具與被測(cè)件并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（主要是分布電容）。

操作：

進(jìn)入儀器菜單，選擇“校準(zhǔn)” -> “開(kāi)路校準(zhǔn)”。

保持測(cè)試夾具的兩端完全懸空（不接觸任何物體）。

按照屏幕提示，確認(rèn)執(zhí)行開(kāi)路校準(zhǔn)。

等待儀器提示“開(kāi)路完成”或進(jìn)度條結(jié)束。

B. 短路校準(zhǔn) (Short Calibration)

目的：消除測(cè)試夾具與被測(cè)件串聯(lián)的殘余阻抗（引線電阻、接觸電阻）。

操作：

選擇“校準(zhǔn)” -> “短路校準(zhǔn)”。

使用低阻抗的金屬短路片（或?qū)Ь€）將測(cè)試夾具的高電極和低電極牢固短接。

確保短路連接良好，接觸電阻極小。

執(zhí)行短路校準(zhǔn)，直到儀器提示完成。

C. 負(fù)載校準(zhǔn) (Load Calibration - 可選但推薦)

目的：消除儀器內(nèi)部的剩余導(dǎo)納和剩余阻抗，提高高精度測(cè)量的準(zhǔn)確性。

操作：

選擇“校準(zhǔn)” -> “負(fù)載校準(zhǔn)”。

連接一個(gè)已知精確參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)元件（如高精度電阻或電容）。

輸入該標(biāo)準(zhǔn)元件的標(biāo)稱(chēng)值，儀器會(huì)自動(dòng)計(jì)算偏差并進(jìn)行補(bǔ)償。

3. 不同連接方式的校準(zhǔn)要點(diǎn)

根據(jù)你使用的測(cè)試線數(shù)量，校準(zhǔn)的側(cè)重點(diǎn)略有不同：

表格

連接方式	適用場(chǎng)景	校準(zhǔn)關(guān)鍵點(diǎn)
2端子法	精度要求不高、一般性測(cè)試	主要消除接觸電阻，短路時(shí)必須壓緊。
4端子法	低阻抗測(cè)量（如毫歐級(jí)）	利用電壓檢測(cè)線消除引線壓降，需確保電流端和電壓端對(duì)應(yīng)連接。
4端對(duì)法	高頻、高精度測(cè)量	需嚴(yán)格進(jìn)行開(kāi)路、短路、負(fù)載全頻段校準(zhǔn)，注意屏蔽干擾。