在電子測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域，一款功能強(qiáng)大且操作便捷的任意波函數(shù)發(fā)生器，是工程師們夢(mèng)寐以求的得力工具。AFG31000 系列任意波函數(shù)發(fā)生器，憑借其創(chuàng)新技術(shù)與卓越性能，脫穎而出，成為眾多專業(yè)人士的理想之選。

優(yōu)異指標(biāo)，滿足多元需求

AFG31000 提供單或雙通道型號(hào)，接到 50Ω 負(fù)載時(shí)，輸出幅度范圍達(dá) 1 mVp-p 至 10 Vp-p，靈活適配不同測(cè)試場(chǎng)景。基本模式下，可輸出 25 MHz 至 250 MHz 的正弦波形，采樣率從 250 MSa/s 到 2 GSa/s 可選，14 位垂直分辨率帶來精細(xì)的信號(hào)呈現(xiàn)。連續(xù)、調(diào)制、掃描與突發(fā)模式一應(yīng)俱全，各通道具備 128 k 點(diǎn)的任意波形內(nèi)存，滿足基礎(chǔ)測(cè)試需求。高級(jí)模式下，連續(xù)模式與選配的序列、觸發(fā)和選通模式相結(jié)合，各通道任意波形內(nèi)存可拓展至 16 M 點(diǎn)（可選 128 M 點(diǎn)），序列模式下多達(dá) 256 步，變量采樣時(shí)鐘范圍廣，最小波形長(zhǎng)度僅 168 點(diǎn)，粒度為 1 點(diǎn)，為復(fù)雜測(cè)試提供有力支持。

創(chuàng)新技術(shù)，提升測(cè)試效率

InstaView? 技術(shù)是 AFG31000 的一大亮點(diǎn)。它能直接查看連接被測(cè)設(shè)備（DUT）后的實(shí)時(shí)波形，無需借助示波器等額外設(shè)備，既節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，又避免了因阻抗不匹配導(dǎo)致的實(shí)驗(yàn)錯(cuò)誤，讓測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。此外，AFG31000 內(nèi)置雙脈沖測(cè)試軟件，在一分鐘內(nèi)就能在觸摸顯示屏上生成兩個(gè)具有可變脈沖寬度（20 ns 到 150 μs）的波形，無需外部 PC 應(yīng)用程序或手動(dòng)編輯，可輕松測(cè)量開關(guān)器件參數(shù)，評(píng)估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動(dòng)態(tài)性能。

功能升級(jí)，拓展應(yīng)用邊界

AFG31000 不僅開箱即用，還支持功能選配升級(jí)。用戶可將內(nèi)存擴(kuò)展至每通道 128 M 點(diǎn)，還能通過選配序列/觸發(fā)/選通模式，實(shí)現(xiàn)循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)等多種功能，創(chuàng)建時(shí)序靈活、復(fù)雜的長(zhǎng)波形，以更低的成本實(shí)現(xiàn)復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯，進(jìn)一步提升測(cè)試水平。