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半導體材料特性測試

發布日期:2025-10-28     作者: 安泰測試     瀏覽數:   

一、概述

該方案旨在使用TH2690高精度靜電計,對半導體材料進行電學特性測試。通過電流測試模式,評估材料在不同條件下的響應特性,為客戶的材料研究與產品開發提供數據支持。

應用實例

在西安某高校實驗室內使用TH2690高精度靜電計,對客戶提供的光敏電阻材料進行電學特性試。通過電流測試模式,評估材料在不同光照條件下的響應特性,為客戶的材料研究與產品開發提供數據支持。

1.測量光敏電阻在暗態與光照下的電流值;

2.繪制電流-電壓(I-V)特性曲線;

3.分析材料的響應時間、靈敏度等關鍵參數;

4.為客戶提供可重復的測試方法與標準操作流程

三、測試設備與系統配置

主要設備:

TH2690靜電計(具備高精度電流測量功能)

探針臺(用于接觸樣品)

光源系統(可調節光照強度)

計算機(搭載上位機軟件,用于數據采集與分析)

軟件支持:

TH2690配套上位機軟件(支持實時數據采集、曲線繪制、數據導出)

四、測試步驟

樣品準備

將光敏電阻樣品置于探針臺上,確保良好電接觸;

連接TH2690的電流測量端口至探針。

設備設置:

半導體材料特性測試(圖1)

開啟TH2690,選擇電流測量模式(Current Mode);

設置合適的量程(如nA或pA級),避免量程過大導致精度下降

連接上位機軟件,啟動實時數據采集功能。

半導體材料特性測試(圖2)

暗態測試:

在無光照條件下,施加一系列偏壓1V,記錄曲線;

繪制暗態I-V曲線。

光照測試:

使用光源照射樣品,調節光照強度;

在不同光照條件下重復步驟3,記錄電流值;

繪制不同光照下的I-V曲線。

 

半導體材料特性測試(圖3)

五、預期成果

1.完整的I-V特性曲線數據集;

2.材料的光電響應特性分析報告;

3.客戶可獨立操作的培訓材料與視頻。

4.完整將測試過程在用戶面前演示,解答用戶的疑問以及建群線上溝通。

半導體材料特性測試(圖4)

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