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Keysight N5227A網絡分析儀偏振片電磁特性測試
發布日期：2025-08-08 作者: 安泰測試 瀏覽數：
應客戶需求，安泰測試做了偏振片電磁特性測試，以下是測試方案
被測件：偏振片
厚度：帶膜（230um）；不帶膜（160um）
測試要求及內容：不帶膜條件下，不同角度的Q值和介電常數值（0~360°）
測試儀器：Keysight N5227A；
分析軟件：Keysight N1500A；
介電常數分析軟件：自研軟件；
測試頻點：3.4GHz
網分空腔測試
現場圖片及曲線（0°）
現場圖片及曲線（90°）
現場圖片及曲線（180°）
現場圖片及曲線（270°）
現場圖片及曲線（360°）
測試數據匯總
角度（°） | 頻率（MHz） | Q值 | 介電常數 | 厚度（mm） |
0 | 3389.009 | 1768 | 2.8416 | 0.16 |
90 | 3390.261 | 2732 | 2.7177 | 0.16 |
180 | 3389.004 | 1768 | 2.842 | 0.16 |
270 | 3390.412 | 2845 | 2.7024 | 0.16 |
360 | 3389.001 | 1760 | 2.8423 | 0.16 |
根據數據分析，偏振片不同角度下的 Q 值和介電常數
用以評估偏振片微觀結構（分子取向、晶體結構、缺陷分布等）各向異性在宏觀介電性能上的體現。
通過分析其角度依賴性，揭示偏振片內部結構的方向性特征，并關聯到偏振片的偏振效率、能量損耗等關鍵功能參數，為優化制備工藝、提升性能提供依據。
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