同惠TH2884脈沖式線圈在低感量繞線元件測試
在電力設(shè)備和電子制造領(lǐng)域，線圈作為關(guān)鍵組件，其性能的穩(wěn)定性和可靠性直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)行效率和安全性。
線圈類產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響，可能會出現(xiàn)匝間絕緣不良、短路、斷路等故障，這些故障不僅會降低設(shè)備的性能，還可能引發(fā)嚴(yán)重的安全事故。因此，對線圈的質(zhì)量進(jìn)行嚴(yán)格的檢測和評估顯得尤為重要。
TH2884脈沖式線圈測試儀是采用高速采樣技術(shù)研制的新一代線圈類產(chǎn)品絕緣性能的分析測試儀器。
TH2884將標(biāo)準(zhǔn)線圈的采樣波形存儲于儀器中，并在測試時(shí)，會將被測線圈的測試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、電暈、相位差等方式），以此來判斷被測試線圈的性能是否達(dá)標(biāo)或優(yōu)劣程度。
A.0.1μH低電感怎么測？
TH2884脈沖式線圈測試儀是針對低感量繞線元件設(shè)計(jì)研發(fā)，最小可測試0.1μH線圈的層間、匝間短路，為電子元件的質(zhì)量控制提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。
低感量線圈測試時(shí)相對常規(guī)線圈測試，更容易受測試線的等效電感分壓影響，TH2884脈沖式線圈測試儀采用雙同軸四端測試（激勵(lì)與采樣各兩端）的方式，可以采集到待測件兩端的真實(shí)信號。
由于低感量線圈的實(shí)際工作電壓較低，測試中也需要用到低壓脈沖。TH2884設(shè)計(jì)電壓為10V-1000V，最低測試電壓達(dá)10V，因此可有效提高低感量線圈的測試分辨能力。
B.如何提前判斷潛在不良？
試前測試是在正式測試前先以較低的電壓測試被測件，并利用最大毛刺及波峰差來判斷被測件是否有潛在的微短路不良。以防止正式測試的較大電壓燒蝕內(nèi)部微短路處后絕緣改善引起的誤判。
C.什么是線圈脈沖測試法？
線圈脈沖測試法是對繞線元件施加一個(gè)非破壞性、高速、低能量的電壓脈沖。
儲能電容C1與被測繞線元件并聯(lián)后，加載脈沖電壓產(chǎn)生LC諧振，通過觀察諧振衰減可了解繞線元件內(nèi)部線圈狀態(tài)（含絕緣、電感及并聯(lián)電容等）。
用相同電容儲存相同電壓，再通過相同寬度的脈沖放電施加至被測與標(biāo)準(zhǔn)線圈，比較兩者因電感量和Q值產(chǎn)生的電壓衰減波形，可判線圈優(yōu)劣。
上圖中的自激振蕩衰減波形與線圈L值、Q值緊密相關(guān)，反映圈數(shù)、工藝差異及材質(zhì)。高壓脈沖放電可判定繞組或磁芯絕緣不良。
當(dāng)線圈匝間或者層間出現(xiàn)下列情況時(shí)，會呈現(xiàn)不同波形：
D.最多有幾種波形比較？
TH2884脈沖線圈測試儀在原有基礎(chǔ)上，將脈沖線圈測試的對比模式從四種擴(kuò)充至九種，使得被測元件的波形能夠與儀器內(nèi)置的標(biāo)準(zhǔn)波形樣本進(jìn)行更為細(xì)致的對比，具體包括：面積對比、面積差對比、毛刺總量對比、最大毛刺對比、波峰比對比、波峰差對比、角頻率、衰減系數(shù)對比以及品質(zhì)因數(shù)對比。
上圖為部分波形比較
E.破壞測試功能
雖然線圈匝間短路和層間短路測試與施加電壓大小關(guān)系不是很大，但是線圈內(nèi)絕緣狀態(tài)測試中，施加的脈沖電壓幅度是一個(gè)很重要的問題。如何設(shè)置合適的測試電壓呢？
除了行業(yè)內(nèi)的規(guī)定電壓外，對于新品或試驗(yàn)性的，可以通過破壞測試功能來找到適合的測試電壓。
TH2884脈沖式線圈測試儀集成了強(qiáng)大的功能、精密的測試手段、靈活的操作方法及多種接口方式，可為大多數(shù)線圈類產(chǎn)品提供測試解決方案。
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