泰克實時頻譜儀高性價比EMI預一致性測試方案
EMI測試是EMC測試的重要環(huán)節(jié)，也是任何電子產(chǎn)品上市之前所必要的步驟，其設計貫穿整個產(chǎn)品的設計流程，要求在設計之初便需要對其進行考慮。但是傳統(tǒng)的EMI測試往往需要專業(yè)的頻譜儀或者信號分析儀，并且受制與分析帶寬，往往不能很快速的捕獲異常頻段。泰克MSO4-5-6基于數(shù)字下變頻技術(shù)的頻譜視圖，使其擁有超高的捕獲帶寬，以及超快的解析速率，能夠使得工程師能夠更快速的定位問題所在，加速測試流程。
EMI，既電磁干擾，指設備在工作時對外部環(huán)境的干擾現(xiàn)象。所有的電子設備都對EMI有限制，要求滿足規(guī)范，既不能影響其他設備的工作。
通常在設計過程中的EMI測試稱之為Pre-EMI測試，簡稱預測試。一般情況下會使用頻譜儀和近場探頭進行測試，如下圖：
由于傳統(tǒng)的頻譜儀其捕獲帶寬有限，一般為10MHz，20MHz，或者40MHz，部分高性能頻譜儀，可以做到更高，但是其高捕獲帶寬一般為選件，且有較高的成本。EMI測試的頻率范圍有一定的要求，但是也較為寬闊，一般的頻譜儀測試則會進入Scan或者Step的模式，整個測試需要很長的掃描周期，有時會高達數(shù)小時。這對于設計階段是不可接受的。而示波器的FFT功能，則受限于采樣率和存儲深度。若要觀測到很高的頻率，要求很高采樣率的同時又要求有足夠的樣點供以計算，難以實現(xiàn)。
泰克MSO4-5-6系列采用了基于硬件的DDC技術(shù)，且時域與頻域并行處理架構(gòu)，大大的提高了測試速度。
MSO6Series，其底噪相較于高端頻譜儀RSA5126B，在中低頻段，測試結(jié)果也不遑多讓，可以保證測試的準確性。
其操作菜單接近于頻譜儀設置，可獨立于時域設置CF以及Span等參數(shù)，相較于FFT操作更加便利。MSO4/5最高Span可至500MHz，MSO6BSeries最高Span高達2GHz，示波器可以作為一臺DC起的中檔頻譜儀使用。
EMI測試實操圖：
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