泰克TAP4000低壓單端探頭

　　一、主要參數及性能特點：

　　衰減比(Attenuation):10X

　　帶寬(Bandwidth):4 GHz

　　輸入阻抗(Input Impedance):40 k?||≤0.8 pF(40千歐姆并聯小于等于0.8皮法)

　　最大輸入電壓(Maximum Voltage):±4 V

　　應用場景:用于測量低于12V以地參考的高速信號。

　　低輸入電容的意義及影響：

　　探頭輸入電容是影響高頻信號測量準確性的關鍵因素之一。較高的輸入電容會引入額外的負載，改變被測電路的特性，導致測量結果失真。泰克TAP4000探頭以其低輸入電容（≤0.8 pF）為主要賣點，這體現了以下幾個方面的優勢：

　　降低對電路的負載影響:低輸入電容意味著探頭對被測電路的負載更小，能夠更精確地反映電路的真實工作狀態。這在對高阻抗、高頻電路元件進行測量時尤為重要，因為這些電路元件對負載變化非常敏感。較大的負載可能導致信號衰減、振蕩或其他非線性行為，從而導致測量結果不準確。

　　提高高頻測量精度:在高頻下，即使是很小的電容也會引入顯著的容抗，從而影響信號的完整性。低輸入電容能夠確保在更高頻率下保持較高的輸入阻抗，減少信號的衰減和失真，提高測量精度。較高的輸入阻抗意味著探頭對電路的干擾更小，可以更準確地捕捉高速信號的細節。

　　提升測量帶寬:較低的輸入電容直接關系到探頭的帶寬。低輸入電容使得探頭能夠在更寬的頻率范圍內保持穩定的性能，從而確保在4 GHz帶寬范圍內獲得準確的測量結果。

　　應用場景及適用范圍：

　　泰克TAP4000低壓單端探頭主要應用于以下場景：

　　高速數字電路測試:在高速數字電路設計和調試中，需要對信號的上升沿、下降沿、抖動等參數進行精確測量。低壓單端探頭能夠在不顯著影響電路工作的情況下，提供準確的信號測量結果。

　　高頻模擬電路測試:對于高頻模擬電路，如射頻電路、高速放大器等，需要使用低負載的探頭來避免測量結果的失真。TAP4000探頭的低輸入電容使其成為這類應用的理想選擇。

　　嵌入式系統調試:在嵌入式系統調試過程中，經常需要測量各種高速信號，例如時鐘信號、數據總線信號等。TAP4000探頭能夠提供精確的測量結果，幫助工程師快速定位和解決問題。

　　其他高阻抗、高頻電路測量:凡是在測量過程中需要將探頭負載影響降至最低的應用場合，TAP4000都展現出其獨特的優勢。

　　泰克TAP4000低壓單端探頭憑借其4 GHz的帶寬、40 k?||≤0.8 pF的輸入阻抗以及±4V的最大輸入電壓等優異參數，以及其低輸入電容帶來的低負載特性，成為高速信號測量領域的理想選擇。其廣泛應用于各種高頻、高阻抗電路的測量，為工程師提供準確、可靠的測量數據，從而提高設計效率和產品質量。低輸入電容的設計理念是該探頭核心競爭力的體現，它有效地解決了高頻測量中探頭負載干擾的問題，為工程師提供了更精準、更可靠的測量手段。